Der Microtester MCom ist ein vollautomatisches Testsystem zum beidseitigen Prüfen von bestückten und unbestückten Substraten. Die Zuführung der Substrate erfolgt kundenspezifisch ab Stapel, Magazin, Blister oder inline ab Förderband.
Das visuelle Erkennungssystem PRS identifiziert und vermisst das Substrat beidseitig, bevor es lage- und versatzkorrigiert im Fine-Pitch Adapter positioniert wird. Zusammen mit der Sirius-Adapter-Technology ermöglicht der MCom Microtester das Kontaktieren von ≥ 40 µm Testpunkten. Mehrfachnutzen werden in X- und Y- Richtung automatisch durchgesteppt.
Für ein sicheres und schnelles Umrüsten sorgt ein Schnellspannsystem mit identifizierbaren Wechselsätzen. Zusätzlich können kundenspezifische Optionen wie Heiz- und Kühlstationen, Reinigungsprozesse oder eine visuelle Entwertung von fehlerhaften Substraten integriert werden.
Der MCom Adapter kann zum Debuggen des Testprogramms oder für Kleinserien auch im Handtestgerät MCit-8 eingesetzt werden.
