Über ein breitenverstellbares Band werden die Substrate oder dessen Träger dem Microtester zugeführt. Das PRS identifiziert das Substrat und ermittelt dessen exakte Lage. Anhand der ermittelten Offsetwerte wird die Kontaktierung optimal zum Substrat positioniert und ermöglicht das präzise Kontaktieren. Die Substrate in den Trägern oder der Mehrfachnutzen können in X- und Y- Richtung durchgesteppt und in einer Aufspannung geprüft werden. Zusammen mit der Sirius-Adapter-Technology ermöglicht der MCent Microtester einen ICT und FCT auf ≥ 200 µm Testpunkte.
Der MCent Microtester kann bei Bedarf kundenspezifisch angepasst oder weiterentwickelt werden.
