Fine-Pitch Prüfadapter
Weltweit führend, wenn es um das Kontaktieren feinster Strukturen auf bestückten oder unbestückten Leiterplatten geht. Unsere Starrnadeladapter ermöglichen das Prüfen mit kleinsten Testpunkten und Pitch, woraus die Optimierung des Layouts, eine grössere Prüfdichte und die Senkung der Produktionskosten resultieren. Für bestückte Leiterplatten sind Testpunktgrössen ab 0.15mm möglich. Für unbestückte Leiterplatten geht es auch noch deutlich feiner.
Stossen Sie bei der Miniaturisierung elektronischer Produkte an Ihre Grenzen? Kontaktieren Sie uns, wir helfen Ihnen gerne weiter!
Dank sehr hohen Standzeiten und in kurzer Zeit selbstständig durchgeführten Servicearbeiten fallen nur geringe Wartungskosten an.
Bei optimalen Bedingungen können mit den Starrnadeln bis zu 500‘000 Kontaktierungen erreicht werden. Der Verschleiss der Starrnadel (Abflachen der Spitze) ist vor allem von der eingesetzten Federkraft und dem zu kontaktierenden Material abhängig.
Aufgrund der exakten Nadelführung und des geringen Taumelspiels können auch auf bestückten Substraten feinste Strukturen abgegriffen werden. Bei den Siriusadaptern treten die Nadeln mit einem minimalen Taumelspiel senkrecht aus dem Adapter aus, wodurch die Testpunkte noch kleiner realisiert werden können und noch näher an Bauteile kontaktiert werden kann. Rein mit der Reduktion der Testpunktfläche von ø0.8mm auf ø0.2mm kann die benötige Testpunktfläche um das 16-fache reduziert werden.
Unsere Adapter
Einzigartige Möglichkeiten für den Funktionstest
Durch die Reduktion des Testpunktes von marktüblichen ø0.8mm auf ø0.12mm kann die reine Testfläche um das 45-fache reduziert werden. Solche kleine Testpunkte können zudem durch den Layouter viel einfacher gesetzt werden. Es besteht nun die Möglichkeit, mit weiteren abgreifbaren Signalen die Prüftiefe zu erhöhen, indem zum Beispiel direkt auf geöffnete Leiterbahnen kontaktiert wird.
Vorteile des 2-Hubadapters
Der 2-Hubadapter bietet den grossen Vorteil, dass mit dem Zustellhub das Substrat durch die Niederhalter stabil unterstütz wird und noch keine Kraft auf das Substrat ausgeübt wird. Erst mit dem Kontaktierhub wird die Kontaktierkraft über die Starrnadeln auf das Substrat ausgeübt. Dadurch wird eine Deformation des Substrates, wie sie beim 1-Hubadpater vorkommen kann, vermieden.
Microstrukturen beim Heisstest
Die Starrnadeladapter von MicroContact wurden so konzipiert, dass diese auch bei 150°C noch perfekt kontaktieren. Wegen der Adapterausdehnung wird beim Heisstest eine substratabhängige minimal grössere Testfläche definiert. Diese Adaptertechnologie hat sich im jahrelangen 24-Stunden Betrieb im Automotiv Bereich bewährt und ist ausgereift.
MCA-ST Steckeradapter zum Kontaktieren von Microsteckern
Der MCA-ST Steckeradapter ermöglicht die direkte Kontaktierung von feinpoligen Steckern auf Schaltungsträgern oder Jumper. Die Führung des Adapters erfolgt über das Steckergehäuse, dadurch werden die Toleranzen von Träger und Montage aufgehoben.
Möglichkeiten:
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Beispiel: |
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Kontaktieren von HDMI Stecker | Kontaktieren von verschiedenen USB Steckern | Kontaktieren von Board-to-Board Stecker |
Adapter von MicroContact können auch in Fremdanlagen verbaut werden. Nehmen Sie mit uns Kontakt auf, um die Schnittstellen zu definieren.
Möglichkeiten:
- Kontaktierung auf Micro-Vias, kleine Testpads, Microstecker etc.
- Kontaktpad > 100µm (Zentrierung über PRS)
- Kontaktpitch > 400µm
- Über 100 Testpunkte/cm2
- Kontaktierkraft 0,8N bis 1,5N pro Testpunkt