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Kundenspezifische Hochstromtester

Hochstromtests von IGBTs, SiCs, Dioden oder MOSFETs

MicroContact baut kundenspezifische Hochstromtester für das Prüfen von Hochleistunghalbleitern wie Dioden, IGBTs, SiCs oder MOSFETs. Die Tester ermöglichen den statischen und dynamischen Hochstromtest direkt auf dem BARE DIE, auf DCB Ebene oder von ganzen Modulen.

Im Hochstrom Prüfadapter werden die speziellen Gegebenheiten berücksichtigt, so dass nur die Prüflinge selbst gemessen werden und ein Einfluss des Adapters mit den Anschlussleitungen auf das Ergebnis vermieden wird.        

Statischer Hochstrom-Tester

Der statische Hochstrom-Tester von MicroContact ist eine Prüfanlage für die Leistungselektronik. Er wird zur Prüfung von Hochstrom-DCBs oder Modulen eingesetzt und erfüllt zuverlässig die Anforderungen an die Qualitätssicherung sowie die Null-Fehler-Strategie in der Produktion.

Beschreibung des Systems:

  • Statischer Hochstrom-Tester 
  • Kontaktierung von oben
  • Schnellwechselsystem für verschiedene DCB’s oder Module

Statische Prüfung:

  • Bis zu 3’000V, 3’000A
  • Impulse >100µs
  • Wide bandgap testing (Si, SiC, GaN)
  • MOSFET’s, IGBT’s
  • RDS(ON)
  • VBRSS, IDSS, IGSS
  • VGSTH
  • VSD

Statischer Hochstromtester MicroContact

Statischer DCB Tester

Statischer Hochstromtester MicroContact

Statischer Modul Tester

Dynamischer Hochstrom-Tester

Der dynamische Hochstrom-Tester von MicroContact ist eine Prüfanlage für die Leistungselektronik. Er wird zur Prüfung von Hochstrom-DCBs oder Modulen eingesetzt und erfüllt zuverlässig die Anforderungen an die Qualitätssicherung sowie die Null-Fehler-Strategie in der Produktion.

Beschreibung des Systems:

  • Dynamischer Hochstrom-Tester
  • Kontaktierung von oben
  • Prüftemperatur 20°C bis 180°C
  • Schnellwechselsystem für verschiedene DCB’s oder Module

Dynamische Prüfung:

  • Bis zu 1’500V, 10’000A
  • Impulse >0.5µs
  • Multipuls-Test
  • Kurzschlusstest
  • UIS (ungeklemmtes induktives Schalten)
  • CIS (geklemmtes induktives Schalten)

Dynamischer Hochstromtester MicroContact

DCB Tester

Dynamischer Hochstromtester MicroContact

Modul Tester

Statischer & Dynamischer Hochstrom-Tester

Der Modultester von MicroContact deckt den kompletten Hochstromtest ab. Nach der ersten statischen Prüfung werden die Module auf die erforderliche Prüftemperatur aufgeheizt und dynamisch geprüft. Nach einer Abkühlphase werden die Module ein zweites Mal statisch geprüft und die Prüfergebnisse verglichen.

Beschreibung des Systems:

  • Statischer Test
  • Prüftemperatur bis zu ≤180°C
  • Dynamischer Test von oben oder von beiden Seiten
  • Abkühlung auf <30°C
  • Zweiter statischer Test

Statischer Test:

  • Bis zu 3’000V, 3’000A
  • Pulse >100µs
  • Wide Bandgap testing
    (Si, SiC, GaN)
  • MOSFET’s, IGBT’s
  • RDS(ON)
  • VBRSS, IDSS, IGSS
  • VGSTH
  • VSD

Dynamische Prüfung:

  • Bis zu 1’500V, 10’000A
  • Impulse >0.5µs
  • Multipuls-Test
  • Kurzschlusstest
  • UIS (ungeklemmtes induktives Schalten)
  • CIS (geklemmtes induktives Schalten)

Statischer / Dynamischer Hochstromtester MicroContact

Modul Tester SDT

Statischer / Dynamischer Hochstromtester MicroContact

Modul Tester


Anwendungsbeispiele

Teststation für dynamischen Hochstromtest

Hochstromtest IGBT

IGBT Tester

Bei der Messtechnik vertrauen wir auf unseren langjährigen und kompetenten Partner VX Instruments. Deren zuverlässige und unter anderem auf PXI basierende Testsysteme ermöglichen potentialfreie und präzise Messungen. Speziell die eingesetzten Hochstrom Puls-SMUs garantieren sehr kurze Testzeiten.

Hochstrom Prüfadapter

Hochstrom-Testsystem

Hochstromadapter

Ihr Ansprechpartner

+41 62 285 80 13

Adrian Bangerter

Verkaufsleiter, GL