MicroContact baut kundenspezifische Hochstromtester für das Prüfen von Hochleistunghalbleitern wie Dioden, IGBTs, SiCs oder MOSFETs. Die Tester ermöglichen den statischen und dynamischen Hochstromtest direkt auf dem BARE DIE, auf DCB Ebene oder von ganzen Modulen.
Im Hochstrom Prüfadapter werden die speziellen Gegebenheiten berücksichtigt, so dass nur die Prüflinge selbst gemessen werden und ein Einfluss des Adapters mit den Anschlussleitungen auf das Ergebnis vermieden wird.
Der statische Hochstrom-Tester von MicroContact ist eine Prüfanlage für die Leistungselektronik. Er wird zur Prüfung von Hochstrom-DCBs oder Modulen eingesetzt und erfüllt zuverlässig die Anforderungen an die Qualitätssicherung sowie die Null-Fehler-Strategie in der Produktion.
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Beschreibung des Systems:
Statische Prüfung:
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Der dynamische Hochstrom-Tester von MicroContact ist eine Prüfanlage für die Leistungselektronik. Er wird zur Prüfung von Hochstrom-DCBs oder Modulen eingesetzt und erfüllt zuverlässig die Anforderungen an die Qualitätssicherung sowie die Null-Fehler-Strategie in der Produktion.
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Beschreibung des Systems:
Dynamische Prüfung:
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Der Modultester von MicroContact deckt den kompletten Hochstromtest ab. Nach der ersten statischen Prüfung werden die Module auf die erforderliche Prüftemperatur aufgeheizt und dynamisch geprüft. Nach einer Abkühlphase werden die Module ein zweites Mal statisch geprüft und die Prüfergebnisse verglichen.
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Beschreibung des Systems:
Statischer Test:
Dynamische Prüfung:
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Anwendungsbeispiele
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