MicroContact baut kundenspezifische Hochstromtester für das Prüfen von Hochleistunghalbleitern wie Dioden, IGBTs, SiCs oder MOSFETs. Die Tester ermöglichen den statischen und dynamischen Hochstromtest direkt auf dem BARE DIE, auf DCB Ebene oder von ganzen Modulen.
Im Hochstrom Prüfadapter werden die speziellen Gegebenheiten berücksichtigt, so dass nur die Prüflinge selbst gemessen werden und ein Einfluss des Adapters mit den Anschlussleitungen auf das Ergebnis vermieden wird.
