MicroContact AG
     Hersteller von Prüfmaschinen und
     Adapter für den Leiterplattentest
     auf feinste Teststrukturen.

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Titelbilder der Firma MicroContact AG.

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Open-/Short- und Funktionstest.

HomeProdukteMicrotesterMComTemperierter Funktionstest

MCom: Temperierter Funktionstest

Microtester MCom für das Testen von feinsten Leiterplatten mit HDI Strukturen       Links:
     
Bei diesem Funktionstester werden Keramiken auf bis 150°C aufgeheizt, um die Funktionalität bei der späteren Arbeitstemperatur testen zu können. Das Aufheizen wird über zwei Stufen realisiert, damit die Substrate nicht mit einem zu grossen Temperaturschock zerstört werden. Für den Heisstest wird dann mit einem vorgeheizten Starrnadeladapter auf die Keramik kontaktiert, so dass auch bei 150°C auf 250µm-300µm Strukturen kontaktiert werden kann.
Mikrotester für den heissen Funktionstest  

Innenansicht eines Funktions-Testers-HT:
Links: DMC-Leser, Vorheizstation und PRS mit DMC-Leser
Vorne: XY-Handling mit vier Heizstationen
Rechts: Oberseiten Kontaktierung und Vorheizstation für Adapter

     
Adapter für den Test von bestückten Substraten  

Starrnadeladapter für bestückte Substrate <150°C:
Zum Kontaktieren bei höheren Temperaturen wurde ein spezieller Adapter entwickelt welcher den termischen und physikalischen Anforderungen gerecht wird. Dabei muss vorallem die Ausdehnung vom Adapter vor und während dem Test berücksichtigt werden. Gehalten wird der Adapter mit einem spezielle Verschluss welcher einen schnellen und werkzeugloser Wechsel ermöglicht.

     
Heizelemente für je zwei Substrate  

Heizelemente:
Über Heizelemente werden die Substrate erhitzt, so dass sie beim Testen im spezifizierten Temperaturband sind. Die Substrate werden über eine Vakuumsystem gehalten, so dass gleichzeitig auch eine gute termische Verbindung zwischen Heizelement und Substrat gewährleistet werden kann. Oben: Vorheizstation für zwei Substrate
Unten: Zwei Heizstationen für vier Substrate.

     
Abblildung von einem 250µm Pad mit Autoscanabdrücken  

Autoscan:
Mit dem Autoscan wird das Substrat in einem feinen Raster abgetastet, bis eine Schlechtmessung auf dem Substrat den Autoscan in eine neue Richtung lenkt. Auf diesem Bild ist ein 250µm Pad ersichtlich auf welchem gut ersichtlich, dass das optimale Zentrum von diesem Testpunkt leicht ausserhalb vom Zentrum liegt. Dies kann durch den Golddruck oder auch durch einen Offset vom Adapter entstanden sein.

     
Mikrotester MCom mit Asys Handling
Bildbeschreibung der einzelnen Komponenten:
Die Keramiken durchlaufen von links her folgende Stationen:
- Asys Magazinhandling
- Bedienplatz mit Entnahmemöglichkeit
- Mikrotester MCom mit PRS und einseitigem Kontaktiersystem
- Ausfördergestell mit Entnahmemöglichkeit
- Asys Magazinhandling

 

 

 

 

Technische Dokumente

Allgemeine Informationen zur Prüftechnik:

Messen

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Die Firma MicroContact AG

Die Firma MicroContact AG ist seit 1984 in der Leiterplattenprüfung tätig und ist für die qualitativen Maschinen und Starrnadeladapter bekannt.

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